● 可攜帶至現場的手持式 ● 可測量0.1μm單位 ● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量 ● 不論基材材質、可測量其鍍膜
產品信息
特點
● 可攜帶至現場的手持式
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質、可測量其鍍膜
測量項目
膜厚測量范圍 | 1μm～50μm |
測量重復性 | 0.01μm |
測量時間 | 1秒以下 |
Smart手持式與其他膜厚儀的比較
●與桌上型光學膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現場”以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。
●與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚的量測精度。
●與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到絕對值！
不需要量測經驗，可快速得到精準的膜厚結果。
產品信息
特點
● 可攜帶至現場的手持式
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質、可測量其鍍膜
測量項目
膜厚測量范圍 | 1μm～50μm |
測量重復性 | 0.01μm |
測量時間 | 1秒以下 |
Smart手持式與其他膜厚儀的比較
●與桌上型光學膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現場”以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。
●與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚的量測精度。
●與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到絕對值！
不需要量測經驗，可快速得到精準的膜厚結果。
規格樣式
量測原理 | 反射分光法（光干涉法）、非破壞性量測 |
膜厚量測范圍 | 1~50μm（顯示上限60μm） |
重復精度 | 2.1σ 0.01μm（SiO2膜1μm） |
量測時間 | 1秒內 |
量測層數 | 1層 |
數據輸出 | 附屬操作屏幕顯示或以USB輸出Excel檔案 |
量測Spot | Φ1mm以下 |
重量 | 約1.1kg |
選配
筆型探頭
能夠測量狹窄區域或形狀的樣品。 探頭尖端Φ6mm。
非接觸式載臺
對于濕膜或半導體晶圓等不想接觸的樣品，可以通過自由設定探頭位置進行非接觸測量。
